Ենթաշերտ
-
Dia300x1.0mmt Հաստության Sapphire Wafer C-Plane SSP/DSP
-
Սիլիցիումի երկօքսիդի վաֆլի SiO2 վաֆլի հաստ փայլեցված, Prime And Test Grade
-
2 դյույմ SiC ձուլակտոր Dia50.8mmx10mmt 4H-N միաբյուրեղ
-
12 դյույմանոց Sapphire Wafer C-Plane SSP/DSP
-
FZ CZ Si վաֆլի պահեստում 12 դյույմանոց սիլիկոնային վաֆլի Prime or Test
-
200 կգ C-plane Saphire boule 99,999% 99,999% մոնոբյուրեղային KY մեթոդ
-
8 դյույմ սիլիկոնային վաֆլի P/N-տիպի (100) 1-100Ω կեղծ ռեկուլտիվ հիմք
-
99,999% Al2O3 շափյուղա մոնոբյուրեղային թափանցիկ նյութ
-
2 դյույմ 50,8 մմ սիլիկոնային վաֆլի FZ N-Type SSP
-
4 դյույմ սիլիկոնային վաֆլի FZ CZ N-Type DSP կամ SSP Test դասարան
-
6 դյույմ SiC Epitaxiy վաֆլի N/P տեսակը ընդունում է հարմարեցված
-
6 դյույմ N-Type կամ P-տիպի սիլիկոնային վաֆլի CZ Si վաֆլի