8 դյույմ SiC Արտադրության դասի վաֆլի 4H-N SiC ենթաշերտ
Հետևյալ աղյուսակը ցույց է տալիս մեր 8 դյույմ SiC վաֆլիների բնութագրերը.
8 դյույմ N- տիպի SiC DSP բնութագրեր | |||||
Համար | Նյութ | Միավոր | Արտադրություն | Հետազոտություն | Կեղծիք |
1: Պարամետրեր | |||||
1.1 | պոլիտիպ | -- | 4H | 4H | 4H |
1.2 | մակերեսային կողմնորոշում | ° | <11-20>4±0,5 | <11-20>4±0,5 | <11-20>4±0,5 |
2: Էլեկտրական պարամետր | |||||
2.1 | դոպանտ | -- | n-տիպի ազոտ | n-տիպի ազոտ | n-տիպի ազոտ |
2.2 | դիմադրողականություն | ohm · սմ | 0,015~0,025 | 0,01~0,03 | NA |
3: Մեխանիկական պարամետր | |||||
3.1 | տրամագիծը | mm | 200±0.2 | 200±0.2 | 200±0.2 |
3.2 | հաստությունը | մկմ | 500±25 | 500±25 | 500±25 |
3.3 | Կտրուկ կողմնորոշում | ° | [1- 100]±5 | [1- 100]±5 | [1- 100]±5 |
3.4 | Անցման խորություն | mm | 1~1,5 | 1~1,5 | 1~1,5 |
3.5 | LTV | մկմ | ≤5 (10 մմ*10 մմ) | ≤5 (10 մմ*10 մմ) | ≤10 (10 մմ*10 մմ) |
3.6 | TTV | մկմ | ≤10 | ≤10 | ≤15 |
3.7 | Խոնարհվել | մկմ | -25~25 | -45~45 | -65~65 |
3.8 | Շեղել | մկմ | ≤30 | ≤50 | ≤70 |
3.9 | AFM | nm | Ra≤0.2 | Ra≤0.2 | Ra≤0.2 |
4: Կառուցվածք | |||||
4.1 | միկրոխողովակների խտությունը | ea/cm2 | ≤2 | ≤10 | ≤50 |
4.2 | մետաղի պարունակությունը | ատոմներ/սմ2 | ≤1E11 | ≤1E11 | NA |
4.3 | TSD | ea/cm2 | ≤500 | ≤1000 | NA |
4.4 | BPD | ea/cm2 | ≤2000 | ≤5000 | NA |
4.5 | TED | ea/cm2 | ≤7000 | ≤10000 | NA |
5. Ճակատային որակ | |||||
5.1 | ճակատ | -- | Si | Si | Si |
5.2 | մակերեսի ավարտ | -- | Si-face CMP | Si-face CMP | Si-face CMP |
5.3 | մասնիկ | ea / վաֆլի | ≤100 (չափը≥0,3 մկմ) | NA | NA |
5.4 | քերծվածք | ea / վաֆլի | ≤5, Ընդհանուր երկարությունը≤200 մմ | NA | NA |
5.5 | Եզր չիպսեր/հատումներ/ճաքեր/բծեր/աղտոտվածություն | -- | Ոչ մեկը | Ոչ մեկը | NA |
5.6 | Պոլիտիպային տարածքներ | -- | Ոչ մեկը | Տարածք ≤10% | Մակերես ≤30% |
5.7 | առջեւի նշում | -- | Ոչ մեկը | Ոչ մեկը | Ոչ մեկը |
6: Մեջքի որակը | |||||
6.1 | ետ ավարտ | -- | C-դեմքի պատգամավոր | C-դեմքի պատգամավոր | C-դեմքի պատգամավոր |
6.2 | քերծվածք | mm | NA | NA | NA |
6.3 | Ետքի եզրերի թերությունները չիպսեր/նեղումներ | -- | Ոչ մեկը | Ոչ մեկը | NA |
6.4 | Մեջքի կոպտություն | nm | Ra≤5 | Ra≤5 | Ra≤5 |
6.5 | Հետևի նշում | -- | Խազ | Խազ | Խազ |
7: եզր | |||||
7.1 | եզր | -- | Շամֆեր | Շամֆեր | Շամֆեր |
8: Փաթեթ | |||||
8.1 | փաթեթավորում | -- | Epi-պատրաստ է վակուումով փաթեթավորում | Epi-պատրաստ է վակուումով փաթեթավորում | Epi-պատրաստ է վակուումով փաթեթավորում |
8.2 | փաթեթավորում | -- | Բազմավաֆեր ձայներիզների փաթեթավորում | Բազմավաֆեր ձայներիզների փաթեթավորում | Բազմավաֆեր ձայներիզների փաթեթավորում |
Մանրամասն դիագրամ
Գրեք ձեր հաղորդագրությունը այստեղ և ուղարկեք այն մեզ